時間解析角解析光電子能譜核心實驗室_技服申請 | A-Core Plus (國科會自然處尖端核心設施技術服務平台)

技服申請

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時間解析角解析光電子能譜核心實驗室

TRACK — Time-Resolved ARPES for Correlated Electrons in k-space

時間解析角解析光電子能譜核心實驗室

核心實驗室介紹

TRACK 時間解析角解析光電子能譜核心實驗室以高次諧波時間解析角解析光電子能譜（HHG-Tr-ARPES）為核心技術，結合飛秒雷射、可調式激發光源、高次諧波極紫外探測光與角解析光電子能譜，提供能量、動量與時間解析的電子結構量測。的使用者。

平台以「專業諮詢、技術服務、學術合作與人才培育」為主要服務方向，協助研究團隊從研究議題與樣品條件評估、實驗參數規劃、Tr-ARPES 量測執行，到數據分析與物理解讀，建立完整的合作研究流程。

TRACK 不以單次代測為主要運作模式，而是透過共同實驗與分階段實作訓練，使合作團隊成員逐步參與樣品準備、儀器操作、量測執行及數據分析，培養具備獨立規劃與執行 ARPES／Tr-ARPES 實驗能力的使用者。

核心技術與主要規格

項目	內容
驅動雷射	1030 nm、10 kHz Yb:KGW 飛秒雷射
脈衝壓縮	利用 multi-plate continuum（MPC）與 chirped mirror，將驅動脈衝由約 190 fs 壓縮至約 30 fs
HHG 探測光	Ar 或 Kr 高次諧波；33–70 eV，可藉由單色儀選擇不同諧波能量
可調泵浦光	350–2600 nm
量測能力	能量、動量與時間解析電子結構量測
光學架構	off-plane conical grating 單色儀，用以降低 pulse-front tilt 與額外時間展寬

適用研究領域與潛在使用者

適用對象包括凝態物理、材料科學、超快光譜、光電、化學、量子材料與理論計算等研究團隊。可支援二維材料、拓撲材料、強關聯系統、電荷密度波材料、磁性材料及非常規超導體等議題之電子結構與多體交互作用研究。在先進半導體、低維材料、光電元件、能源材料與量子科技相關研究中，亦可用於探討能帶排列、界面電子結構、載子鬆弛、光激發態、暫態未佔據能帶、band-gap renormalization 及界面電荷轉移等問題